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LGA16pin芯片测试座

定制LGA16(8)pin-1.12mm芯片测试座

SPECIFICATION

1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For1 Minute At AC 700V

3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)

5、额定电流:1A max/Pin.

6、工作温度:-45°C ~+125°C

7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical)

8、操作力:1.0Kg MAX

9、中心引脚间距:1.12mm

10、适配芯片尺寸:4.12*4.12mm

晶振2016-4L烧录座

标准品晶振2016-4pin双层板烧录座

2016-4pin晶振烧录座参数:

支持封装:2016-4L晶振

支持频率:≤1Ghz

温度范围:无要求

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN 1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

QFN28pin芯片烧录座

QFN28pin-0.45mm芯片编程烧录座

标准品:QFN28pin芯片编程烧录座参数:

自主选择规格:支持带板烧录座,不带板光座

本体尺寸:4*4mm

中心引脚间距:0.45mm

Socket壳体:PEI+PEEK

探针材料:铍铜

探针镀层:镍金

操作压力:2.0KGmin,与pin数成正比

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for 1minute

绝缘阻抗:1000mΩ 500V DC

最大电流:1A

机械寿命:大于20000次(机械测试)

BGA256pin芯片测试夹具

定制BGA256pin-0.7mm芯片测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:旋钮翻盖式
10、测试座材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.7mm
12、适配芯片尺寸:13*13mm

QFP48pin芯片下压老化座

标品QFP48pin-0.5mm芯片老练夹具

标准品QFP48pin-0.5mm芯片老化座产品特点及规格

Socket本体:PEI+PEEK

Socket结构:下压式+加接地

弹片针材料:铍铜

弹片针镀层:镍金

操作压力:2.OKGmin,pin数越多压力越大

接触阻抗:50mΩmax

耐压测试:700V AC for lminute

绝缘阻抗:1000m500V 

DC最大电流:1A

使用温度:-45°C-+125°C

机械寿命:大于20000次(机械测试)

TSSOP24pin芯片老化socket

标品TSSOP24pin-0.65mm芯片老化座

定制TSSOP24pin-0.65mm芯片老化测试座参数:

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-45°C~+125°C

使用寿命:大于15,000 Times(Mechanical)

操作力:1.0Kg MAX

老练座结构:翻盖式

老化座材料:PEI+PEEK

TO247-2L整流二极管老化座

标品TO247-2pin器件老化测试座

TO247-2L整流器老练插座参数:

壳体材质:PEEK; 

接触端子:进口铍铜,触点镀厚金 

高温性能: 

1.120℃-135℃,连续使用大于5000 小时; 

2.135℃-150℃,连续使用时长大于200 小时; 

机械性能:插拔次数50000次; 

额定电流:20A

每pin拔插力度:25g/ pin

LGA16pin芯片测试座

定制LGA16(8)pin-1.12mm芯片测试座

SPECIFICATION

1绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For1 Minute At AC 700V

3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)

5、额定电流:1A max/Pin.

6、工作温度:-45°C ~+125°C

7、使用寿命:20,000 Times(Mechanical)

8、操作力:1.0Kg MAX

9、中心引脚间距:1.12mm

10、适配芯片尺寸:4.12*4.12mm

WLCSP6pin芯片测试座

定制WLCSP6pin-0.4mm芯片测试座

1. 微间距适配:探针需精准匹配0.35mm及以上间距的触点,同时避免相邻针尖短路

2. 温度适应性:工作温度范围需覆盖-55°C至120°C,以应对汽车电子/工业设备等严苛环境

3. 高可靠性:插拔次数需超过50万次,确保测试设备长期稳定运行.


光电模块自动化ATE测试座

定制LCC48pin光电模块自动化ATE测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:1.0mm

适配光电模块尺寸:16.4*16.4mm

模块实际下针20pin


UFS153pin芯片测试座

定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座

UFS153pin存储芯片测试座参数:

实际下针87pin

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute At AC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-55°C ~+125°C

最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

SOT89器件测试座

定制SOT89-3L-1.5mm器件测试座

SPECIFICATION

1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

2、耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

3、接触阻抗:30mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)

4、额定电流:1Amax/Pin.

5、工作温度:-55°C~+175°C

6、测试座结构:合金翻盖式

7、器件尺寸:4*4.5mm

BGA96pin芯片测试座

定制BGA96pin-0.8mm芯片测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For1 Minute At AC 700V
3、接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mA and 20mV MAX.(Initial)
4、支持频率:1GHz@-ldB(其他高频需沟通)
5、额定电流:1A max/Pin.
6、工作温度:-45°C ~+125°C
7、使用寿命:大于25,000 Times(Mechanical)
8、操作力:1.0Kg MAX(根据下针数量)
9、测试座结构:翻盖式
10、测试座材料:合金+PEEK
11、中心引脚间距:0.8mm
12、适配芯片尺寸:9*13.5mm

整流二极管SMD测试座

定制SMD4pin-1.8mm整流二极管测试座

SPECIFICATION
1、绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V
2、耐电压:For 1 Minute At DC 500V
3、接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mA and 20mVMAX.(Initial)
4、额定电流:1Amax/Pin.
5、工作温度:-45~155℃

UFS153pin芯片测试座

定制UFS153(87pin)-0.5mm芯片测试座

UFS153pin存储芯片测试座参数:

实际下针87pin

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute At AC 700V

接触阻抗:100mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.

工作温度:-55°C ~+125°C

最高测试速率:6Ghz(仅UFS高速测试),HS400/HS200

操作力:15~30g/Pin MAX

晶振2016-4L烧录座

标准品晶振2016-4pin双层板烧录座

2016-4pin晶振烧录座参数:

支持封装:2016-4L晶振

支持频率:≤1Ghz

温度范围:无要求

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN 1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

2512电容测试座

定制2512-2pin-1.79mm多工位电容测试座

2512电容测试座参数:

绝缘阻抗:1000mΩMin.At DC 500V

耐电压:For 1 Minute AtAC 700V

接触阻抗:50mΩ MAX。at 10mAand 20mV MAX.(Initial)

额定电流:1Amax/Pin.可过6A

工作温度:-45°C~+155°C


光电模块自动化ATE测试座

定制LCC48pin光电模块自动化ATE测试座

支持频率:≤200Mhz

温度范围:-45℃-125℃

操作力压:30g每pin,PIN越多需要压力越大

额定电流:单PIN1A max

接触电阻:≤50毫欧

绝缘电阻:DC500V 1000兆欧以上

机械寿命:>1.5万次

中心引脚间距:1.0mm

适配光电模块尺寸:16.4*16.4mm

模块实际下针20pin


TO247-2L整流二极管老化座

标品TO247-2pin器件老化测试座

TO247-2L整流器老练插座参数:

壳体材质:PEEK; 

接触端子:进口铍铜,触点镀厚金 

高温性能: 

1.120℃-135℃,连续使用大于5000 小时; 

2.135℃-150℃,连续使用时长大于200 小时; 

机械性能:插拔次数50000次; 

额定电流:20A

每pin拔插力度:25g/ pin

TO247-2L整流二极管老化座

标品TO247-2pin器件老化测试座

TO247-2L整流器老练插座参数:

壳体材质:PEEK; 

接触端子:进口铍铜,触点镀厚金 

高温性能: 

1.120℃-135℃,连续使用大于5000 小时; 

2.135℃-150℃,连续使用时长大于200 小时; 

机械性能:插拔次数50000次; 

额定电流:20A

每pin拔插力度:25g/ pin

鸿怡电子HMILU品牌测试座在行业应用中的解决方案

鸿怡造·中国芯片检验方案服务标杆品牌卓越品质服务至上

cooperation

感恩前行23年来为众多客户提供优质服务

为加快半导体国产替代“芯进程”,鸿怡电子作为半导体测试/老化耗材的“第一梯队”,勇于担当,筑牢国产半导体自主测试“防线”,坚持“技术是根、创新是魂、人才为本”,并以“三个留人”理念(事业、待遇、文化)构建人才高地。

他们共同见证了鸿怡电子

走进鸿怡

二十三年前,深圳市鸿怡电子有限公司的董事长发现中国人一直都是用进口的测试座,价格非常昂贵且没有售后可言,于是萌生了一定要让中国人用上物美价廉的优质测试座的想法。公司经过23年发展,终于成为今天集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,在深圳--苏州--武汉都有生产工厂,占地面积超过五千平米...

芯片测试控温稳触抗形变:鸿怡高功率芯片测试座破解热胀冷缩难题

芯片测试控温稳触抗形变:鸿怡高功率芯片测试座破解热胀冷缩难题

在新能源汽车、工业储能、轨道交通等领域,高功率芯片的功率密度已从几十瓦提升至数百甚至上千瓦,其测试环节面临着“高热负荷”带来的独特挑战。高功率芯片在测试时会瞬间产生大量热量,导致芯片与测试座出现显著热胀冷缩;而测试结束后温度骤降,又会引发二...

查看详情2025-11-24
芯片极端环境下的良率守护:鸿怡电子车规芯片测试座破解车载测试难题

芯片极端环境下的良率守护:鸿怡电子车规芯片测试座破解车载测试难题

车载环境测试作为车规芯片量产前的“终极考核”,测试良率的稳定性直接关系到芯片量产效率与整车安全。鸿怡电子深耕车规芯片测试领域,其定制化车规级芯片测试座以符合车规级验证标准的设计,精准破解车载测试痛点,成为保障测试良率的核心支撑。

查看详情2025-11-19
鸿怡电子元器件可靠性测试筛选:方案、原则、项目

电子元器件的固有可靠性取决于产品的可靠性设计,因此,应该在电子元器件装上整机、设备之前,就要设法把具有早期失效的元器件尽可能地加以排除,为此就要对元器件进行筛选。

查看详情2025-11-18